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1. Science, Education and Technology Division Colloquium on Expert Systems for NDT

   organised by Professional Group S6 ... on Friday, 3 February 1989
   Erschienen: 1989

   Verlag:  IEE, London

   • Bibliographische Angaben
   • Zugang
   • Export

   Berlin: Humboldt-Universität zu Berlin, Universitätsbibliothek, Jacob-und-Wilhelm-Grimm-Zentrum

   Standort:

   Humboldt-Universität zu Berlin, Universitätsbibliothek, Jacob-und-Wilhelm-Grimm-Zentrum

   Fernleihe:

   uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

   Export in Literaturverwaltung

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   Quelle:	Verbundkataloge
   Sprache:	Unbestimmt
   Medientyp:	Buch (Monographie)
   Körperschaften/Kongresse:	Institution of Electrical Engineers, Science, Education, and Technology Division (Verfasser)
   Schriftenreihe:	IEE Colloquium digest ; 1989/21
   Schlagworte:	Kontrolle; Qualität; Auslegung; Expertensystem; Ultraschall; Schweißen; Konferenz
   Umfang:	[getr. Zählung]