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  1. Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices
    LECTURES PRESENTED AT THE NATO ADVANCED STUDY INSTITUTE ON NONDESTRUCTIVE EVALUATION OF SEMICONDUCTOR MATERIALS AND DEVICES, HELD AT THE VILLA TUSCOLANO, SEPTEMBER 19-29, 1978
    Erschienen: 1979
    Verlag:  Plenum Press, NEW YORK, LONDON

    Standort:
    Ruhr-Universität Bochum, Universitätsbibliothek
    Signatur:
    WQB11975
    Fernleihe:
    Ausleihe von Bänden möglich, keine Kopien
    Export in Literaturverwaltung   RIS-Format
      BibTeX-Format
    Quelle: Verbundkataloge
    Sprache: Unbestimmt
    Medientyp: Buch (Monographie)
    ISBN: 0306402939
    RVK Klassifikation: UP 2800 ; UP 3100
    Schriftenreihe: NATO ADVANCED STUDY INSTITUTES SERIES : SER. B, PHYSICS ; VOL. 46
    Schlagworte: Halbleiterwerkstoff; Charakterisierung; Werkstoffprüfung; Halbleiter
    Umfang: XI, 782 S., ZAHLR. ILL. U. GRAPH. DARST.
  2. Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices
    lectures pres. at the NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices, held at the Villa Tuscolano, Italy, Sept. 19-29, 1978
    Beteiligt: Zemel, Jay N. (Hrsg.)
    Erschienen: 1979
    Verlag:  Plenum Press, New York, NY

    Standort:
    Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
    Signatur:
    CH2187-46+1
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Standort:
    Physik-Bibliothek
    Signatur:
    110:Bpe 315
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universität Bonn, Physikalisches Institut, Fachbereichs-Bibliothek Physik
    Signatur:
    CONF 34
    Fernleihe:
    keine Fernleihe

    Standort:
    Universitäts- und Landesbibliothek Düsseldorf
    Signatur:
    phyu600.z53
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universitätsbibliothek Duisburg-Essen
    Signatur:
    XWQ1152_d
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universitätsbibliothek der Fernuniversität
    Signatur:
    XWZ/ZEM
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universitätsbibliothek der RPTU in Kaiserslautern
    Signatur:
    PHY 607/807
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universitätsbibliothek Siegen
    Signatur:
    61UIU1490
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
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      BibTeX-Format
    Quelle: Verbundkataloge
    Beteiligt: Zemel, Jay N. (Hrsg.)
    Sprache: Englisch
    Medientyp: Buch (Monographie)
    ISBN: 0306402939
    RVK Klassifikation: UP 2800 ; UP 3100
    Schriftenreihe: NATO advanced study institutes series : Series B, Physics ; 46
    Schlagworte: Halbleiterwerkstoff; Halbleiter; Charakterisierung; Werkstoffprüfung
    Umfang: 782 S.
  3. Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices
    LECTURES PRESENTED AT THE NATO ADVANCED STUDY INSTITUTE ON NONDESTRUCTIVE EVALUATION OF SEMICONDUCTOR MATERIALS AND DEVICES, HELD AT THE VILLA TUSCOLANO, SEPTEMBER 19-29, 1978
    Erschienen: 1979
    Verlag:  Plenum Press, NEW YORK, LONDON

    Standort:
    Ruhr-Universität Bochum, Universitätsbibliothek
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
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      BibTeX-Format
    Quelle: Verbundkataloge
    Medientyp: Buch (Monographie)
    Format: Druck
    ISBN: 0306402939
    RVK Klassifikation: UP 3100 ; UP 2800
    Schriftenreihe: NATO ADVANCED STUDY INSTITUTES SERIES : SER. B, PHYSICS ; VOL. 46
    Schlagworte: Halbleiter; Halbleiterwerkstoff; Werkstoffprüfung; Halbleiter; Charakterisierung
    Umfang: XI, 782 S. : ZAHLR. ILL. U. GRAPH. DARST.
  4. Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices
    [lectures presented at the NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices, held at the Villa Tusculano, Italy, September 19 - 29, 1978]
    Erschienen: 1979
    Verlag:  Plenum Press, New York [u.a.]

    Standort:
    Freie Universität Berlin, Universitätsbibliothek
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Staatsbibliothek zu Berlin - Preußischer Kulturbesitz, Haus Unter den Linden
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    TU Berlin, Universitätsbibliothek
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
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    Hinweise zum Inhalt
    Quelle: Philologische Bibliothek, FU Berlin; Staatsbibliothek zu Berlin
    Sprache: Englisch
    Medientyp: Buch (Monographie)
    ISBN: 0306402939
    RVK Klassifikation: UP 2800 ; UP 3100
    Schriftenreihe: NATO advanced study institutes series : Series B, Physics ; 46
    Schlagworte: Semiconducteurs - Essais - Congrès; Semiconductors; Rückstreuung; Akustische Messtechnik; Konferenz; Optische Messtechnik; Charakterisierung; Halbleiterwerkstoff; Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung; Zuverlässigkeit; Halbleiter; Halbleiterbauelement; Werkstoffprüfung; Röntgenographie
    Umfang: XI, 782 S., Ill., graph. Darst.
  5. Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices
    [lectures presented at the NATO advanced study institute, held at the Villa Tuscolano, Italy, Sept. 19-20, 1978]
    Beteiligt: Zemel, Jay N. (Hrsg.)
    Erschienen: 1978
    Verlag:  Plenum Press, New York [u.a.]

    Standort:
    Humboldt-Universität zu Berlin, Universitätsbibliothek, Jacob-und-Wilhelm-Grimm-Zentrum
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
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    Quelle: Verbundkataloge
    Beteiligt: Zemel, Jay N. (Hrsg.)
    Sprache: Unbestimmt
    Medientyp: Buch (Monographie)
    ISBN: 0306402939
    RVK Klassifikation: UP 2800 ; UP 3100
    Schriftenreihe: NATO advanced study institutes series: Series B, Physics ; 46
    Schlagworte: Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung; Optische Messtechnik; Halbleiter; Konferenz; Halbleiterwerkstoff; Zuverlässigkeit; Halbleiterbauelement; Charakterisierung; Akustische Messtechnik; Rückstreuung; Röntgenographie; Werkstoffprüfung
    Umfang: XI, 782 S., Ill.
  6. Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices
    [lectures presented at the NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices, held at the Villa Tusculano, Italy, September 19 - 29, 1978]
    Erschienen: 1979
    Verlag:  Plenum Press, New York [u.a.]

    Standort:
    Universitätsbibliothek Erlangen-Nürnberg, Technisch-naturwissenschaftliche Zweigbibliothek
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Technische Universität München, Universitätsbibliothek
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universität der Bundeswehr München, Universitätsbibliothek
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universitätsbibliothek Regensburg
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Export in Literaturverwaltung   RIS-Format
      BibTeX-Format
    Quelle: Verbundkataloge
    Sprache: Englisch
    Medientyp: Buch (Monographie)
    ISBN: 0306402939
    RVK Klassifikation: UP 2800 ; UP 3100
    Schriftenreihe: NATO advanced study institutes series : Series B, Physics ; 46
    Schlagworte: Semiconducteurs - Essais - Congrès; Semiconductors; Rückstreuung; Akustische Messtechnik; Konferenz; Optische Messtechnik; Charakterisierung; Halbleiterwerkstoff; Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung; Zuverlässigkeit; Halbleiter; Halbleiterbauelement; Werkstoffprüfung; Röntgenographie
    Umfang: XI, 782 S., Ill., graph. Darst.
  7. Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices
    lectures pres. at the NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices, held at the Villa Tuscolano, Italy, Sept. 19-29, 1978
    Beteiligt: Zemel, Jay N (Herausgeber)
    Erschienen: 1979
    Verlag:  Plenum Press, New York, NY

    Standort:
    Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universitäts- und Landesbibliothek Bonn
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universitäts- und Landesbibliothek Düsseldorf
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universitätsbibliothek Duisburg-Essen
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universitätsbibliothek der Fernuniversität
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universitätsbibliothek der RPTU in Kaiserslautern
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universitätsbibliothek Siegen
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Export in Literaturverwaltung   RIS-Format
      BibTeX-Format
    Quelle: Verbundkataloge
    Beteiligt: Zemel, Jay N (Herausgeber)
    Sprache: Englisch
    Medientyp: Buch (Monographie)
    Format: Druck
    ISBN: 0306402939
    RVK Klassifikation: UP 3100 ; UP 2800
    Schriftenreihe: NATO advanced study institutes series : Series B, Physics ; 46
    Schlagworte: Halbleiter; Halbleiterwerkstoff; Werkstoffprüfung; Halbleiter; Charakterisierung
    Umfang: 782 S.