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  1. Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices
    lectures pres. at the NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices, held at the Villa Tuscolano, Italy, Sept. 19-29, 1978
    Beteiligt: Zemel, Jay N (Herausgeber)
    Erschienen: 1979
    Verlag:  Plenum Press, New York, NY

    Standort:
    Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universitäts- und Landesbibliothek Bonn
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universitäts- und Landesbibliothek Düsseldorf
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universitätsbibliothek Duisburg-Essen
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universitätsbibliothek der Fernuniversität
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universitätsbibliothek der RPTU in Kaiserslautern
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universitätsbibliothek Siegen
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
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      BibTeX-Format
    Quelle: Verbundkataloge
    Beteiligt: Zemel, Jay N (Herausgeber)
    Sprache: Englisch
    Medientyp: Buch (Monographie)
    Format: Druck
    ISBN: 0306402939
    RVK Klassifikation: UP 3100 ; UP 2800
    Schriftenreihe: NATO advanced study institutes series : Series B, Physics ; 46
    Schlagworte: Halbleiter; Halbleiterwerkstoff; Werkstoffprüfung; Halbleiter; Charakterisierung
    Umfang: 782 S.