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  1. Erweiterte Charakterisierung der Schädigungen durch heiße Ladungsträger im Gateoxid von Kurzkanal-MOS-Feldeffekttransistoren
    Author: Mahnkopf, Reinhard
    Published: 1989

    Location:
    Universitätsbibliothek Erlangen-Nürnberg, Technisch-naturwissenschaftliche Zweigbibliothek
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    Location:
    Bayerische Staatsbibliothek
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    Technische Universität München, Universitätsbibliothek
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    Universitätsbibliothek Regensburg
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    Source: Union catalogues
    Language: German
    Media type: Dissertation
    RVK Categories: ZN 4870
    Subjects: MOS-FET; Heißes Elektron; Kurzkanal-FET; Ladungsträger; Schadensanalyse; Charakterisierung; Schädigung
    Scope: III, 106 S.
    Notes:

    Berlin, West, Techn. Univ., Diss.
  2. Organisational constructions of the BSE problem
    a systems theoretical case study on the globalisation of risk
    Author: Tacke, Veronika
    Published: 1999
    Publisher:  European Univ. Institute, Badia Fiesolana, San Domenico (FI)

    Location:
    Informationszentrum der Deutschen Gesellschaft für Auswärtige Politik e.V.
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    Location:
    Max-Planck-Institut für Bildungsforschung, Bibliothek und wissenschaftliche Information
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    Location:
    Staatsbibliothek zu Berlin - Preußischer Kulturbesitz, Haus Unter den Linden
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      BibTeX file
    Source: Staatsbibliothek zu Berlin
    Language: English
    Media type: Book
    Format: Print
    Series: Array ; 99,8
    Subjects: Wirtschaftsbeziehungen; Globalisierung; Risiko; Lebensmittel; Schädigung; Futtermittel; BSE; Fleischindustrie; Einrichtung; Problemlösen; Fähigkeit; Handlungsspielraum; Organisation; Deutschland
    Scope: 38 S.
  3. Erweiterte Charakterisierung der Schädigungen durch heiße Ladungsträger im Gateoxid von Kurzkanal-MOS-Feldeffekttransistoren
    Author: Mahnkopf, Reinhard
    Published: 1989

    Location:
    Humboldt-Universität zu Berlin, Universitätsbibliothek, Jacob-und-Wilhelm-Grimm-Zentrum
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      BibTeX file
    Source: Union catalogues
    Language: Undetermined
    Media type: Dissertation
    RVK Categories: ZN 4870
    Subjects: MOS-FET; Ladungsträger; Heißes Elektron; Charakterisierung; Kurzkanal-FET; Schadensanalyse; Schädigung
    Scope: III, 103 S.
    Notes:

    Berlin, Techn. Univ., Diss., 1989
  4. Erweiterte Charakterisierung der Schädigungen durch heiße Ladungsträger im Gateoxid von Kurzkanal-MOS- Feldeffekttransistoren
    Author: Mahnkopf, Reinhard
    Published: 1989

    Location:
    Humboldt-Universität zu Berlin, Universitätsbibliothek, Jacob-und-Wilhelm-Grimm-Zentrum
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      BibTeX file
    Source: Union catalogues
    Language: German
    Media type: Dissertation
    RVK Categories: ZN 4870
    Subjects: Heißes Elektron; MOS-FET; Ladungsträger; Charakterisierung; Kurzkanal-FET; Schadensanalyse; Schädigung
    Scope: 106 S., Ill.
    Notes:

    Berlin, Techn. Univ., Diss., 1989
  5. Schonungslos und brutal
    Otto Dix' Triptychon "Der Krieg" wurde in Dresden erstmals untersucht; Thema: 1914 Auswirkungen auf die Kunst
    Author: Baier, Uta
    Published: 2014

    Location:
    Staats- und Universitätsbibliothek Bremen
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    Location:
    Sächsische Bibliografie
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      BibTeX file
    Source: Union catalogues
    Language: German
    Media type: Article (journal)
    Format: Print
    Parent title: In: Restauro; München : Georg GmbH & Co. KG, 1988; 120(2014), 4, Seite 34-39

    RVK Categories: LI 26500 ; LH 70200 ; AK 88190
    Subjects: Gemäldegalerie Neue Meister; Dix, Otto <Triptychon>; Gemäldeuntersuchung; Künstlerische Technik; Schädigung; ; Kunst; Erster Weltkrieg <Motiv>; ; Dix, Otto;
    Scope: Ill.
    Notes:

    Literaturangaben. - Enth. auch: Kurzbiographie u. d. T.: Künstler und Soldat : Otto Dix (1891-1969)
  6. Erweiterte Charakterisierung der Schädigungen durch heiße Ladungsträger im Gateoxid von Kurzkanal-MOS-Feldeffekttransistoren
    Author: Mahnkopf, Reinhard
    Published: 1989

    Location:
    TU Berlin, Universitätsbibliothek
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    Source: Union catalogues
    Language: German
    Media type: Dissertation
    RVK Categories: ZN 4870
    Subjects: MOS-FET; Heißes Elektron; Kurzkanal-FET; Ladungsträger; Schadensanalyse; Charakterisierung; Schädigung
    Scope: III, 106 S.
    Notes:

    Berlin, West, Techn. Univ., Diss.
  7. Granit - kein Material für die Ewigkeit
    Author: Gervais, Angelika; Kemp, Ellen
    Published: 1996

    Location:
    LVR-Amt für Denkmalpflege im Rheinland, Bibliothek
    Inter-library loan:
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      BibTeX file
    Source: Union catalogues
    Language: German
    Media type: Article (journal)
    Format: Print
    Parent title: Enthalten in: DenkMal!; Heide : Westholsteinische Verl.-Anst. Boyens, 1994; 3(1996), Seite 65-68

    Subjects: Dom Schleswig <Schleswig, Stadt>; Steinplastik; Granit; Schädigung; Kartierung; ; Löwe <Motiv>;
    Scope: Illustrationen